點(diǎn)擊圖片查看大圖
源表定義
“源表”又稱(chēng)“數(shù)字源表”、“源測(cè)量單元”，是一種可編程控制，作電壓源或電流源提供精確的電壓或電流，并同步測(cè)量和IV掃描的通用儀表。
源表特點(diǎn)：
多功能：可作源和負(fù)載，又能測(cè)；
高效率：滿(mǎn)足多種測(cè)試需求；
可編程控制：高精度可調(diào)，靈活控制；
IV掃描：快速、直觀顯示，一步操作。
應(yīng)用領(lǐng)域：
分立半導(dǎo)體器件特性測(cè)試，電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC、GaN等器件；
能量與效率特性測(cè)試，LED/AMOLED、太陽(yáng)能電池、電池、DC-DC轉(zhuǎn)換器等
傳感器特性測(cè)試，電阻率、霍爾效應(yīng)等
有機(jī)材料特性測(cè)試，電子墨水、印刷電子技術(shù)等
納米材料特性測(cè)試，石墨烯、納米線(xiàn)等
測(cè)試功能：
|
微電路 |
||
|
1 |
晶圓 |
L-IV測(cè)試，輸入曲線(xiàn)、輸出曲線(xiàn) |
|
2 |
芯片 |
L-IV測(cè)試，輸入曲線(xiàn)、輸出曲線(xiàn) |
|
器件 |
||
|
1 |
二極管 |
正向?qū)妷?、正向電流、反向擊穿電壓、反向漏電?/p> |
|
2 |
三極管 |
L-IV測(cè)試，輸入曲線(xiàn)、輸出曲線(xiàn) |
|
3 |
MOSFET |
L-IV測(cè)試，輸入曲線(xiàn)、輸出曲線(xiàn) |
|
4 |
IGBT |
L-IV測(cè)試，輸出曲線(xiàn)、轉(zhuǎn)移曲線(xiàn) |
|
5 |
晶閘管 |
正向電壓電流曲線(xiàn)、反向電壓電流曲線(xiàn)、觸發(fā)特性 |
|
電池 |
||
|
1 |
鋰電池 |
IV測(cè)試，充放電掃描曲線(xiàn) |
|
2 |
光伏電池 |
IV測(cè)試，放電掃描曲線(xiàn) |
|
材料 |
||
|
1 |
石墨烯 |
IV測(cè)試、輸入曲線(xiàn)、輸出曲線(xiàn) |
|
2 |
納米線(xiàn) |
IV測(cè)試、輸入曲線(xiàn)、輸出曲線(xiàn) |
對(duì)標(biāo)2400國(guó)產(chǎn)數(shù)字源表S300型特點(diǎn)：
1、5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作
2、內(nèi)置強(qiáng)大的功能軟件，加速用戶(hù)完成測(cè)試，如LIV、PIV
3、源及測(cè)量的準(zhǔn)確度為0.1%，分辨率5數(shù)位
4、四象限工作（源和肼），源及測(cè)量范圍：電流100pA~1A，電壓0.3mV~300V
5、豐富的掃描模式，支持線(xiàn)性?huà)呙?、指?shù)掃描及用戶(hù)自定義掃描
6、支持USB存儲(chǔ)，一鍵導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告
7、支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)
S系列源表參數(shù)：
|
源限度 |
電壓源: +30V (≤1A量程) , +300V (≤100mA量程) ; |
|
電流源 |
士1.05A(≤30V量程)，+105mA (≤300V量程) ; |
|
過(guò)量程 |
105%量程,源和測(cè)量; |
|
穩(wěn)定負(fù)載電容 |
<22nF ; |
|
寬帶噪聲(20MHz) |
2mVRMS(典型值)，<20mVVp-p(典型值); |
|
線(xiàn)纜保護(hù)電壓 |
輸出阻抗1K9 ,輸出電壓偏移<80uV ; |
|
最大采樣速率 |
1000采樣點(diǎn)/秒; |
|
觸發(fā) |
支持IO觸發(fā)輸入及輸出,觸發(fā)極性可配置; |
|
輸出接口 |
前后面板香蕉頭插座輸出,同- -時(shí)刻只能用前或者后面板接口; |
|
通信口 |
RS-232、GPIB、 以太網(wǎng); |
|
電源 |
AC 100~ 240V 50/60Hz ; |
|
工作環(huán)境 |
25+10°C ; |
|
尺寸 |
106mm高x 255mm寬x 425mm長(zhǎng); |
|
重量 |
5Kg ; |
|
質(zhì)保期 |
3年; |
國(guó)產(chǎn)優(yōu)勢(shì)
1、自主研發(fā)，符合大環(huán)境下國(guó)內(nèi)技術(shù)自給的需求；
2、性?xún)r(jià)比高；
3、可及時(shí)與客戶(hù)溝通，為客戶(hù)提供高性?xún)r(jià)比系統(tǒng)解決方案。及時(shí)指導(dǎo)客戶(hù)編程，加速測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)發(fā)。
常見(jiàn)答疑：
1、 為什么你們的測(cè)量精度比不上進(jìn)口產(chǎn)品？
0.1%精度已能滿(mǎn)足絕大部分行業(yè)應(yīng)用，具有更高的性?xún)r(jià)比。普賽斯儀表也在研發(fā)更高精度的源表，不過(guò)價(jià)格會(huì)稍高。
2、 通道數(shù)量所體現(xiàn)的具體產(chǎn)品差異是什么？
對(duì)于很多芯片而言，往往需要多個(gè)通道的源表進(jìn)行測(cè)試。集成多個(gè)通道有利于減少系統(tǒng)體積、減少開(kāi)發(fā)難度。目前普賽斯儀表臺(tái)式源表僅提供單通道。但插卡式源表可實(shí)現(xiàn)多通道。
3、 普通源表與插卡式源表的具體異同？
插卡式源表是一種無(wú)觸屏顯示的、由多種源表子卡組成的組合式儀表。子卡功能與臺(tái)式源表功能基本一致，子卡必須在特定的主機(jī)內(nèi)才能工作。插卡式源表由上位機(jī)控制，具有單位體積內(nèi)通道密度更高、可根據(jù)實(shí)際情況自由組合源表子卡等特點(diǎn)，最高可支持達(dá)40通道。目前已規(guī)劃單卡單通道和單卡4通道源表子卡。
4、關(guān)于軟件
S系列軟件，兼容2400和2450，對(duì)使用2400和2450搭建的已有測(cè)試系統(tǒng)，可以實(shí)現(xiàn)替換，而無(wú)需修改測(cè)試系統(tǒng)軟件。
5、關(guān)于測(cè)試搭建
簡(jiǎn)易測(cè)試連接電極直接測(cè)試，其它要求可采取與探針臺(tái)，測(cè)試機(jī)配套使用。